Tanδ测试|损耗角测试|耗散系数测试

Tanδ测试的原理

一个纯粹的绝缘子连接跨线和地球的时候,它表现得像一个电容器。在一个理想的绝缘体,也作为电介质的绝缘材料,100%的纯,电流经过绝缘子,只有电容组件。没有电阻分量的电流,从线流向地球通过绝缘子在理想的绝缘材料,有百分之零的杂质。

在纯电容,电容电流应用电压到90年^o。
在实践中,绝缘子不能100%的纯。也由于绝缘体的老化,泥土和水分等杂质进入。这些杂质提供电流的导电路径。因此,电动通过绝缘子泄漏电流从线流向地球有一个电阻组件。

因此,不用说,绝缘子,电动泄漏电流的电阻分量很低。在另一方面,电绝缘体的健康可以通过电阻分量的比值决定到电容组件。良好的绝缘体,这一比率将会相当低。这一比率通常被称为tanδ或tanδ。有时也称为耗散因子。

在上面的矢量图,系统电压是沿着x轴画。泄漏电流的导电电流即电阻分量,我_R也会沿着x轴。
电容组件的泄漏电流_C在90年导致系统电压^o,它将沿着轴。
现在,我总泄漏电流_l(我_c+我_R)一个角δ(说)和轴。
从上面的图表,它清除,比例,我_R都给我_C只不过是tanδ或tanδ。

注:这个δ角称为损耗角。

Tanδ测试的方法

电缆绕组,电流互感器,电压互感器、变压器套管上tanδ测试或耗散系数测定进行,首先是孤立的系统。一个低频测试电压在整个设备的绝缘测试。

首先,正常的电压。如果tanδ似乎足够好,外加电压提高到1.5到2倍的正常电压,设备。的tanδ控制器单元需要测量的tanδ值。损耗角分析仪连接与棕褐色计量单位比较tanδ值在正常电压和更高的电压和分析结果。

在测试期间,必须应用测试电压在一个非常低的频率。

应用频率很低的原因

如果外加电压的频率高,容抗绝缘体的低,因此电流高的电容分量。电阻组件几乎是固定的;它取决于外加电压和绝缘子的电导率。在高频电容电流,大的振幅矢量和电容和电阻元件的电流变大。

因此,要求视在功率tanδ测试会变得足够高这是不实际的。所以保持权力要求这个耗散系数测定非常低频测试电压是必需的。tanδ测试的频率范围是通常从0.1到0.01 Hz取决于大小和绝缘材料的性质。

还有一个原因,有必要保持测试的输入频率尽可能低。

正如我们所知,

这意味着,耗散因子tanδ∝1 / f。
因此,在低频率、tanδ数量较高,测量变得更加容易。

如何预测Tanδ测试的结果

有两种方法可以预测一个绝缘系统的条件在tanδ或耗散因子测试。

第一,一个是比较之前测试的结果来确定,条件的恶化的绝缘老化效应造成的。

第二个是,确定绝缘的状态从tanδ的价值,直接。没有要求比较之前的tanδ测试的结果。

如果绝缘是完美的,损耗因子将大约相同的所有范围的测试电压。但如果绝缘是不够的,tanδ的价值增加更高的测试电压范围。

从图,很明显,tanδ数字非线性测试非常低频电压的增加而增加。增加tan&delta,意味着,高电阻电流分量,在绝缘。这些结果与之前的结果可以比较测试绝缘体,采取正确的决定是否该设备将会被替换。