Tan Delta测试|损耗角度测试|耗散因子测试

Tan Delta测试原理

跨线和地球连接时的纯绝缘体，表现为a电容器。在理想的绝缘体中，作为作为电介质的绝缘材料也是100％纯净的电流穿过这一点绝缘子，只有电容分量。在理想的绝缘材料中，从线路流过绝缘体到地的电流没有阻性成分，杂质为零。

在纯电容器中，电容电流导致施加的电流电压到90^O.。
实际上，绝缘体不能达到100%的纯度。也由于绝缘子老化，灰尘和水分等杂质进入它。这些杂质为电流提供了传导途径。因此，从线路流过绝缘体到地的漏电流具有电阻分量。

因此，不用说，对于良好的绝缘体，电漏电流的这种电阻分量非常低。另一种方式，电绝缘体的健康可以通过电阻部件与电容分量的比率来确定。对于良好的绝缘体，该比例将非常低。该比率通常称为Tanδ或Tan delta。有时它也被称为耗散因子。

在上面的矢量图中，系统电压沿X轴绘制。导电电流i. ..漏电流的电阻分量，i_R.也将沿x轴。
为漏电流I的电容分量_C引入系统电压90^O.，它将沿y轴绘制。
现在，总漏电流I_L.（一世_C+ I._R.）用Y轴形成角度δ（例如）。
现在，从上面的图中可以清楚地看到，比率I_R.都给我_C只不过是tanδ或tan delta。

NB：该δ角称为损耗角度。

Tan Delta测试方法

电缆，绕组，电流互感器那潜在的变压器，变压器套管，其上Tan Delta测试或耗散因子测试要进行，首先从系统中孤立。在待测绝缘的设备上施加非常低频的测试电压。

首先，施加正常电压。如果TAN DELTA的值足够好，则施加的电压升至设备的正常电压的1.5至2倍。这tanδ控制器测量tan值。将损耗角分析仪与tan delta测量装置连接，比较正常电压和较高电压下的tan delta值，并对结果进行分析。

在测试期间，必须以非常低的频率施加测试电压。

应用非常低频的原因

如果施加电压的频率高，则电容电抗绝缘体的电流变低，因此电流的电容性分量高。电阻元件几乎是固定的;它取决于施加的电压和绝缘体的导电性。当电容性电流频率较高时，其电容性分量和电阻性分量的矢量和幅值也较大。

因此，需要表观力量Tan Delta测试会变得足够高，这不实用。所以要保持电源要求耗散因子测试，需要非常低频的测试电压。根据绝缘的尺寸和性质，Tan Delta测试的频率范围通常为0.1至0.01Hz。

还有另一个原因，必须尽可能低地保持测试的输入频率是必不可少的。

正如我们所知,

这意味着，耗散因子Tanδα1/ f。
因此，在低频率时，tan值较高，测量也更容易。

如何预测Tan Delta测试的结果

有两种方法可以预测在TAN DELTA或耗散因子测试期间的绝缘系统的状况。

首先，一是通过比较以往试验的结果来确定，绝缘条件由于老化效应的恶化。

第二个是，直接确定从Tanδ的值的绝缘条件。无需比较Tan Delta测试的先前结果。

如果绝缘是完美的，则对于各种测试电压，损耗因子大致相同。但是，如果绝缘是不够的，则TAN DELTA的值在更高的测试电压范围内增加。

从图中，显然，随着试验非常低频电压的增加，TAN和DELTA编号是非线性的增加。在绝缘中增加TAN＆DELTA，即高电阻电流部件，即高电阻电流部件。这些结果可以与先前测试的绝缘体的结果进行比较，采取正确的决定设备是否会被替换。